高度加速寿命試験（HALT）は、急速な高温および低温振動システムを使用して、電子および機械アセンブリの設計上の欠陥や欠陥を明らかにするプロセスです。HALTの目的は、製品開発の初期段階で製品の機能と損傷限界を特定し、製品の信頼性を最適化することです。これにより、もともと6か月または1年かかっていた新製品の信頼性テストがわずか1週間に短縮されます。この1週間で発見された製品の問題は、適用後に顧客が発見した問題とほぼ同じです。そのため、HALTテスト方法は、新製品を市場に投入する前に必要な検証になっています。詳細については、ここをクリックしてください→製品の詳細
HALTテストとは何ですか?
HALT（高加速寿命試験）は、高加速寿命試験の略です。HALTは、徐々に増加する環境ストレスや作業負荷を適用することで、製品の欠陥や弱点の露出を加速する試験方法です。主に製品開発段階で使用されます。製品の設計やプロセスの欠陥をより短い時間で明らかにできるため、設計の改善や製品の信頼性の向上の基盤となります。
HALT は、米国の Hobbs によって最初に提案され、継続的に改良されてきました。主な目的は、テスト対象の限界値を高め、それによって堅牢性と信頼性を高めることです。
HALTは段階的にストレスを加え、製品の欠陥、動作限界、損傷限界をできるだけ早く検出できます。製品に適用されるストレスには、振動、高温と低温、温度サイクル、電源スイッチサイクル、電圧マージンと周波数マージンテストなどがあります。このテストにより、製品の設計と製造における欠陥を迅速に発見し、設計上の欠陥を改善し、製品の信頼性を高め、上場サイクルを短縮できます。同時に、設計を改善し、製品の信頼性に関する基礎データを蓄積し、その後の製品の研究開発に重要な基礎を提供します。
HALT の主なテスト機能は次のとおりです。
高い環境ストレスを利用して製品設計の欠陥を刺激し、改善します。
製品の設計能力と故障モードを理解する。
高ストレススクリーニングおよび監査仕様策定の参考資料として役立ちます。
製品製造プロセスにおける欠陥を迅速に発見します。
製品の信頼性を高め、メンテナンスコストを削減します。
製品設計能力データベースを確立し、研究開発の基盤を提供し、設計および製造サイクルを短縮します。
HALT は、製品の信頼性における弱点をできるだけ早く検出するために、製品の研究開発段階に適用されます。適用されるストレスは、通常の輸送、保管、使用中に製品に生じるストレスよりもはるかに高くなります。
HALTには以下の内容が含まれます。
1) 製品が故障または誤作動するまで徐々にストレスを加えます。
2) 製品の故障または不具合を修正するための一時的な措置を講じる。
3) 製品が再び故障または誤動作を起こすまで徐々にストレスを加え続け、再度修正します。
4) 上記のストレス-故障-修正手順を繰り返し、製品の基本動作限界と基本損傷限界を見つけます。
HASSテストとは何ですか?
HASS（高加速ストレススクリーニング）の正式名称は、高加速ストレススクリーニングテストです。HASSは、製品がHALTによって動作限界または損傷限界に達した後、製造段階で実施される高加速ストレススクリーニングです。通常、製品の100％がスクリーニングに参加する必要があります。
HASS の目的は、製品の潜在的な欠陥を減らし、製品が工場を出荷する前にこれらの欠陥を排除することです。HASS は主に加速ストレスを使用して、短時間で不良品を見つけ、製品の改善サイクルを短縮します。
HASS は、HALT で見つかったすべての改善策を確実に実施できるように、製品の製造段階に適用されます。また、HASS は、製造プロセスやコンポーネントの変更によって新しい欠陥が発生しないことも保証します。
HASS には次のものが含まれます。
1) 明らかな欠陥に発展する可能性のある隠れた欠陥を排除するための事前スクリーニング。
2) 明らかな欠陥を見つけるための検出スクリーニング。
3) 障害分析と改善対策
HASS と HALT の違い:
1. 異なる段階: HALT は開発段階であり、HASS は生産の初期段階、つまり生産段階です。
2. 目的の違い: HALT テストは設計上の欠陥を見つけて改善するためのテストですが、HASS は合格テストであり、大量生産の品質管理です。
3. 強度の違い：HALTテストは製品に損傷を与える可能性がありますが、HASSテストは製品に損傷を与えないはずです。HASSテスト後、製品は販売される必要があるためです。ただし、HALTテスト後の製品の出荷は固く禁じられています。
4. 異なるテスト方法: HALT テストは、製品が故障するまでストレスを加速するテストです。HASS テストは、製品の摩耗がなく、徐々に修正され、テスト概要が完了するプロセスを繰り返します。
5. HALT テストと HASS テストは故障率を最適化し、デバイスのライフサイクルの異なる段階にあります。
