製品の説明
高温・低温試験室 は、高温、低温、交互温度、または一定試験下で温度環境が変化した後の電気、電子およびその他の製品および材料のパラメータと特性を試験および判定するために使用される一種の試験装置です。
航空、自動車、家電、科学研究などの分野で広く使用されており、これらの分野で必要なテストツールです。高温および低温テストチャンバーは、高温および低温操作、保管、温度サイクル、高温高湿度、低温低湿度、結露テストなど、気候環境における製品の温度と湿度の組み合わせ条件をシミュレートできます。そのため、防衛産業、航空宇宙産業、自動化コンポーネント、自動車部品、電子および電気部品、計測機器、材料、プラスチック、化学、食品、製薬業界、および関連製品の熱、湿度、寒さ、乾燥性能と品質管理エンジニアリングテスト仕様に使用されます。これらのテストを通じて、特定の環境条件下で製品自体の適応性や特性が変わったかどうかを評価できます。
モデル |
B-TH-80 (A~G) |
B-TH-150 (A~G) |
B-TH-225 (A~G) |
B-TH-408 (A~G) |
B-TH-608 (A~G) |
B-TH-800 (A~G) |
B-TH-1000 (A~G) |
内寸幅x高さx奥行(cm) |
40x50x40 |
50x60x50 |
50x75x60 |
80x85x60 |
80x95x80 |
100x100x80 |
100x100x100 |
外寸幅x高さx奥行(cm) |
95x145x105 |
105x175x97 |
115x190x97 |
135x185x120 |
145x185x137 |
145x210x130 |
147x210x140 |
温度範囲 |
0 度 ~+150 度 |
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湿度範囲 |
20%~98%RH(10%-98%RH/5%~98%RHは特定の条件です) |
導入
LED照明技術は、省エネと長寿命という特徴から、照明プロジェクトで広く使用されています。しかし、統一された業界標準がないため、市場に出回っているLED照明製品の品質は不均一です。LED照明業界の急速な発展に伴い、世界と国内では、製品の品質を確保し、業界の健全な発展を促進するために、関連するテストと評価の標準の開発が始まりました。
国際標準設定の状況
現在、LED照明技術の研究と標準化は世界中でますます注目されています。米国国立標準試験研究所(NIST)は、LED照明の試験方法の研究を積極的に推進し、包括的なLED試験方法と標準システムの確立を目指しています。同時に、日本でも特別な「白色LED試験研究委員会」を設立し、高温・低温サイクル試験ボックスなど、照明に使用される白色LEDの高温・低温試験方法と技術標準の開発に重点を置いています。
先進国は世界のLED産業で主導的な地位を獲得するために、LEDの規格と試験に多大な資源を投入してきました。これらの国々は、規格を開発する際に、LEDの特性パラメータの選択と試験方法の研究に特に注意を払っています。さらに、多くの大手国際企業の研究開発チームも、国内外の標準化組織の活動に積極的に参加し、LED高温高湿試験室の規格など、半導体照明の高温および低温試験規格の開発を共同で推進しています。
しかし、現在、国際照明委員会(CIE)と国際電気標準会議(IEC)は、LED照明に特化した規格をまだ策定しておらず、既存の規格は主に一般的なLEDの試験方法と従来の光源に関する照明規格です。これは、LED照明分野の標準化がまだ発展途上であり、改善するにはさらなる研究と国際協力が必要であることを示しています。現在、一般的なLEDの試験規格は次のとおりです。
Iec 60747-5 ディスクリート半導体デバイスおよび集積回路 (1992);
IEC ディスクリート半導体デバイスおよび集積回路コンポーネント、5-2: 光電子デバイス - 分類特性および要素 (1997-09)。
IEC ディスクリート半導体デバイスおよび集積回路、5-3: 光電子デバイス -- 試験方法 (1997-08);
IEC ディスクリート半導体デバイス、12-3: 光電子デバイス - 空白の詳細 ディスプレイ用発光ダイオードの規格 (1998-02)
CIE127-1997LED試験方法(1997)
CIE/ISOLED 強度試験規格。
1997 年に国際照明委員会 (CIE) が発行した CIE 127-1997 規格では、LED 強度テストの平均強度の概念が提案され、統一されたテスト構造と検出器のサイズが指定され、LED パフォーマンスの正確なテストと比較の重要な基礎となりました。CIE 127-1997 は正式な国際規格ではありませんが、実装の容易さとテストの精度を保証できるため、世界中の多くの大手企業に採用されています。ただし、LED 技術の急速な発展に伴い、CIE 127-1997 規格では、高温高湿環境でのテストなど、いくつかの新しい LED 技術特性をカバーできませんでした。
LED規格の開発において、日本も積極的な取り組みを見せている。例えば、日本の日亜化学工業と米国のルミレッズ社はLED技術の相互ライセンス契約を結び、パワーLED規格を共同で開発して市場への応用を促進し、LED産業の安定的な発展を促進する計画だ。
さらに、米国の製品安全認証および規格設定機関であるUL(Underwriters Laboratories Inc.)も、一連のLED製品安全評価規格を積極的に開発しています。ULの照明計画事業部のEli Puszkar氏は、新しいLED照明製品が従来の照明器具と同様に大衆に受け入れられ、信頼されるようにするために、ULはLED製品の安全性評価規格の開発に着手したと述べました。新製品の開発と設計の過程で、メーカーは感電、火災、生理的危険の防止などの安全性の問題を考慮する必要があります。
BOTO の高温・低温試験室は、LED ランプの高温・低温試験においてかけがえのない役割を果たし、製品の信頼性を検出し、製品の競争力を向上させることができます。
BOTOは20年以上にわたり高温および低温試験室を専門としています。ご質問がございましたら、お問い合わせ.
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